Scanning Electron Microscope (SEM)
Teknologi Analisis Permukaan untuk Karakterisasi Material dengan Detail Tinggi Dalam penelitian dan pengembangan material, pengamatan menggunakan mikroskop optik sering kali belum cukup untuk melihat karakteristik permukaan secara detail. Scanning Electron Microscope (SEM) hadir sebagai instrumen analisis yang memungkinkan pengguna mengamati morfologi, topografi, mikrostruktur, bentuk partikel, porositas, retakan, dan karakteristik permukaan material dengan resolusi yang jauh […]